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4. 透射电子显微镜（TEM）：Hitachi H-600，操作电压100 kV，用于详细表征FeCoNi-MOXs的纳米结构。 5. X射线光电子能谱（XPS）仪：配备Al Kα X射线源，用于分析FeCoNi-MOXs的表面化学成分和氧化态。 6. X射线衍射（XRD）仪：采用Cu Kα辐射，用于表征FeCoNi-MOXs的晶体结构。

材料表征与电化学测量：运用多种材料表征技术，如扫描电子显微镜（SEM）结合能谱仪（EDS）、X 射线衍射（XRD）、共聚焦激光扫描显微镜（CLSM）、X 射线光电子能谱（XPS）、衰减全反射傅里叶变换红外光谱（FTIR）等对材料的形貌、结构和成分进行分析。