日本三丰Mitutoyo的M Plan ApoNIR物镜专为明场及近红外观察和激光加工设计，具备无限远校正及长工作距离的特点。该物镜采用平场复消色差透镜技术，适用于从可见光至近红外波段（最高达1800 nm）的校正，从而实现高质量的光学成像与精密加工。