原子力显微镜（AFM，Atomic Force Microscopy）是一种纳米级表面形貌和物理性质测量技术，能够直接观测纳米级别的表面形态、粗糙度、力学性质等。AFM基于量子力学原理，通过检测原子间的作用力来实现对样品表面的高分辨率成像。 一、AFM 的工作原理 ...

通过Scopus数据库，以“atomic force microscopy or forcemicroscope”为关键词进行文献检索，截止2016年2月的检索结果高达10,0000篇，2008年以来每年文献约6000篇。 如今，AFM是许多领域赖以进行微观表征乃至微制造和微加工的重要手段，被广泛用于物理、化学、材料、矿物、纳米科技、医学、生物学等众多领域。

透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）是利用高能电子束充当照明光源而进行放大成像的大型显微分析设备。1933年，德国科学家卢斯卡（Ruska）和克诺尔（Knoll）研制出了世界上第一台透射电镜（见图1），并在1939年由 ...

该报道称：“清洁原子力显微镜（atomic force microscope，AFM）针尖是AFM可靠成像和力测量的关键。研究者现在发现，具有超尖刺突的标定光栅作为‘刷子’，可用来机械清除AFM探针上的污染物，这是通过把探针在加大力的恒力模式下扫描刺突来实现。