薄膜表面由交联颗粒和分散颗粒组成，AFM 测试表明其表面平整致密，高度振幅约 ±40nm。XRD 分析显示薄膜两侧在 4.7° 处有对应 (100) 平面的强峰，还有其他对应不同晶面的衍射峰。TEM 研究展示了薄膜的层状堆叠结构，HRTEM 给出了清晰的晶格。与报道的 COF-LZU1 颗粒 ...

金融界2025年1月30日消息，上海御渡半导体科技有限公司于2024年10月申请了一项名为“一种半导体测试方法”的专利，公开号为CN119377026A。该专利专注于提升集成电路自动化测试设备的效率，显著提高还原速度，令人惊讶的背后究竟蕴藏了什么创新？