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应材展示最新芯片检测设备，适用2纳米以下先进芯片、高密度DRAM
应用材料（Applied Materials）于周四（20日）展示最新检测设备SEMVision H20。该设备配备该公司第二代冷融合辐射（CFE）技术，相较热融合辐射（TFE ...