全新发布的AFM-in-PhenomXL结合了扫描电子显微镜(SEM)和原子力显微镜(AFM)的优势,实现了在同一系统中对样品进行多模态(SEM及AFM形貌、元素、机械、电学、磁学)关联分析。·设备扫描范围(开环):100μm×100μm×20μm·设备扫描范围(闭环):80μm×80μm×16μm ...