金融界2025年1月30日消息，上海御渡半导体科技有限公司于2024年10月申请了一项名为“一种半导体测试方法”的专利，公开号为CN119377026A。该专利专注于提升集成电路自动化测试设备的效率，显著提高还原速度，令人惊讶的背后究竟蕴藏了什么创新？

高分辨率形貌分析由AFM测试得到，而局部化学表征则由增强光热诱导共振（PTIR）技术的红外光谱技术完成。PTIR技术也支持接触共振频率检测同时对可各种材料的成像分析。 （A）EAA和尼龙多层 ...

IT之家 7 月 31 日消息，苹果公司最新发布论文 [PDF]，分享了关于 Apple Intelligence 模型的相关细节，部分性能已经超过 OpenAI 的 GPT-4。 苹果在论文中 ...

2.测试原子力前最好先用扫描电镜或透射电镜进行筛选，并提供相关的参考图片。 3.C-AFM PFM KPFM测试要求样品必须导电。 4.导电性能测试(C-AFM)：可同时得到样品形貌和电流分布图，也可进行选区I ...

纳米尺度下的磁学图像对于研究磁性材料和超导样品是非常重要的，利用attocube公司attoAFM/attoMFM/atoSHPM系统，科学家可以在无以 ...

通过X射线光电子能谱仪（XPS）、透射电子显微镜（TEM）、飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS )和原子力显微镜（AFM）测试技术，获得 SEI/CEI 的膜：价态信息、厚度信息和成分信息，帮助研发人员更 ...

MTM-AFM1000 是专门为原子力显微镜（AFM）设计的一款可与AFM联用的微型材料力学表征的测试仪器，主要用于固体材料在力、热（需配备加热模块）以及二者耦合作用条件下的力学性能测试和材料 ...